JRE 1720

分类：屏蔽测试外壳

厂家： JRE Test

产地：美国

型号： JRE 1720

更新时间： 2025-02-06 16:31:46

标签：

设备测试 RF屏蔽电磁兼容性测试外壳铝合金结构 I/O接口

简介：

1 to 6 GHz, RF Shielded Test Enclosure

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概述

专为I/O密集型设备测试设计的RF屏蔽测试外壳，具有优越的RF隔离性能。

参数

配置 / Configuration : Portable
包装类型 / Package Type : Benchtop
开放类型 / Opening Type : Front
分庭 / Chambers : Single Chamber
频率 / Frequency : 1 to 6 GHz
隔离/绝缘 / Isolation/Insulation : -100 to -85 dB
应用 / Applications : Wi-Fi, WLAN, 3G
运行 / Operation : Manual

应用

1. I/O密集型设备测试 2. RF性能评估 3. 电磁兼容性测试

特征

1. 宽敞的内部空间 2. 优越的RF屏蔽效果 3. 双I/O板设计 4. 方便的单手操作门 5. 适用于高设备测试

详述

JRE 1720 RF Shielded Test Enclosure是一款高效的RF屏蔽测试外壳，专为需要大量I/O连接的高设备设计而开发。其宽敞的内部空间为设备提供了舒适的测试环境，且采用了焊接铝合金结构，确保其耐用性和长期使用的稳定性。通过其独特的三点锁定机制，用户可以轻松实现单手操作，同时提供安全的门锁解决方案。内置的双I/O板设计使得几乎任何设备都能轻松适配，极大地提升了测试的灵活性。此外，JRE 1720还配备了高效的通风系统，确保设备在测试过程中的散热。无论是进行RF性能评估还是电磁兼容性测试，这款测试外壳都能提供优秀的隔离效果，使得测试结果更为准确可靠。总之，JRE 1720 RF Shielded Test Enclosure是高效、可靠的测试解决方案，适合各种射频测试需求。

规格书

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其它

智推产品： JRE 1710 RF Shielded Test Enclosure JRE 1730 RF Shielded Test Enclosure

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