JRE 1724A

分类：屏蔽测试外壳

厂家： JRE Test

产地：美国

型号： JRE 1724A

更新时间： 2025-02-06 16:31:29

标签：

测试设备射频测试电磁兼容性屏蔽外壳多设备测试

简介：

1 to 6 GHz, RF Shielded Test Enclosure

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概述

JRE 1724A是一个超薄的机架可安装式射频屏蔽测试外壳，专为需要大量I/O的扁平设备测试而设计。其大尺寸和双I/O板非常适合在外壳内测试多个设备。

参数

配置 / Configuration : Portable
包装类型 / Package Type : Benchtop
开放类型 / Opening Type : Top
分庭 / Chambers : Single Chamber
频率 / Frequency : 1 to 6 GHz
隔离/绝缘 / Isolation/Insulation : -100 to -85 dB
应用 / Applications : Wi-Fi, WLAN, 3G
运行 / Operation : Manual

应用

1. 多设备测试 2. 射频隔离测试 3. 电磁兼容性测试

特征

1. 双接触门屏蔽确保可重复测量 2. 3/4"厚RF吸收泡沫减少驻波 3. 重型不锈钢铰链和支撑 4. 多种连接器选项适用于各种用途 5. 可选的80mm通风口，AC或DC风扇

详述

JRE 1724A RF屏蔽测试外壳是专为高效测试多种设备而设计的理想解决方案。它的超薄设计使其能够轻松适应标准的19英寸机架，同时提供出色的射频隔离性能，确保测试结果的准确性和可靠性。外壳采用坚固的铝焊接结构，具有良好的耐用性和长寿命。双I/O面板设计允许用户根据需要灵活配置各种接口，满足不同设备的连接需求。同时，内部的电磁吸收材料有效减少射频反射和热点，进一步提升测试效果。无论是在实验室还是生产环境中，JRE 1724A都能提供高效、经济的测试解决方案。

规格书

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