概述
参数
- 类型 / Type : Benchtop
- 测量类型 / Measurement Type : Pulsed
- 频率 / Frequency : 2 MHz to 1.8 GHz
- 测量精度 / Measurement Accuracy : ± 2 dB up to 1 MHz
- 交叉相关分析 / Cross-Correlation Analysis : No
- 相位噪声下限 / Phase Noise Floor : -178 to -140 dBc/Hz
- 相位噪声下限(1 赫兹) / Phase Noise Floor (1 Hz) : -140 to -130 dBc/Hz
- 相位本底噪声(1 千赫兹) / Phase Noise Floor (1 KHz) : -170 to -168 dBc/Hz
- 相位噪声下限(10 赫兹) / Phase Noise Floor (10 Hz) : -150 to -140 dBc/Hz
- 相位本底噪声(10 千赫兹) / Phase Noise Floor (10 KHz) : -178 to -168 dBc/Hz
- 相位噪声下限(100 赫兹) / Phase Noise Floor (100 Hz) : -160 to -150 dBc/Hz
- 相位本底噪声(100 千赫兹) / Phase Noise Floor (100 KHz) : -178 to -168 dBc/Hz
- 余噪 / Residual Noise : -178 dBc/Hz
- 虚假 / Spurious : -110 dBc
- 偏移分析范围 / Offset Analysis Range : 0.01 Hz to 1MHz
- 输入功率范围 / Input Power Range : -20 to 20 dBm
- 尺寸 / Dimension : 13.3 x 38.5 x 57.5 cm
应用
1. 测量相位噪声 2. PLL和合成器测试 3. 不稳定设备的相位噪声分析
特征
1. 模块化设计 2. 低残余噪声 3. 支持多种测量技术 4. 提供图形用户界面
详述
规格书
厂家介绍
其它
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