DCP-150K-50

分类：射频探头

厂家： FormFactor Inc.

产地：美国

型号： DCP-150K-50

更新时间： 2024-11-11 10:40:04

标签：

高精度仪器可靠性测试探头支架光电测量同轴探头

简介：

DC coaxial probe, Kelvin, 50 µm pitch, 5.0 µm radius tip

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概述

DCP-100系列探头支架提供了先进的晶圆工艺和器件表征所需的测量精度，以及可靠性测试。通过卓越的防护和屏蔽，DCP-100系列探头克服了非同轴针探头的性能限制。

参数

频率 / Frequency : DC to 150 MHz
螺距范围 / Pitch Range : 50 um
阻抗 / Impedance : 50 Ohms
连接器 / Connector : SSMC
机身材料 / Body Material : Tungsten(Tip material)
工作温度 / Operating Temperature : -65 to 150 Degree C

应用

1. 用于先进的晶圆工艺和器件表征 2. 可靠性测试 3. 使用与MicroChamber®配合的探测系统进行全三轴电流/电压测量

特征

1. 低噪声电气性能 2. 超低fA级电流和fF级电容测量 3. 可现场更换的同轴探头尖端 4. 完全电气防护至探头尖端

详述

DCP-100探头支架是一款高性能的测量工具，专为先进的半导体测试设计。它能够提供极高的测量精度，特别是在fA级电流和fF级电容的测量上表现出色。该产品适用于各种应用，包括晶圆工艺和设备表征、可靠性测试等。DCP-100系列的设计考虑到了用户的便利性，探头尖端可现场更换，确保了测量的灵活性和效率。此外，DCP-100还采用了优越的屏蔽和防护设计，有效克服了传统探头的性能限制。对于任何需要高精度电气测量的半导体测试工程师来说，DCP-100无疑是一个理想的选择。

规格书

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厂家介绍

FormFactor, Inc. 是集成电路整个生命周期（从特性分析、建模、可靠性和设计除错到鉴定和生产测试）测试和测量技术的领先供应商。半导体公司依靠他们的产品和服务，通过优化器件性能和提高产量知识来加速盈利能力。

其它

智推产品： DCP-105R 单探头支架 DCP-115R 单探头支架 DCP-150R 单探头支架

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