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HCP-1B 射频探头

HCP-1B

分类: 射频探头

厂家: FormFactor Inc.

产地: 美国

型号: HCP-1B

更新时间: 2024-11-17 14:14:49

测试设备 射频测量 高电流 高电压 高功率探针 功率半导体

650 µm Pitch Range RF Probe

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概述

FormFactor的高功率探针提供完整的在晶圆上解决方案,适用于功率半导体的过温和低接触电阻测量。

参数

  • 螺距范围 / Pitch Range : 650 µm
  • 直流电压 / DC Voltage : 500 V
  • 直流电流 / DC Current : 100 A
  • 连接器 / Connector : Banana, Banana - Male
  • 接触电阻 / Contact Resistance : 10 mOhms
  • 机身材料 / Body Material : Tungsten(Tip material)
  • 终生达阵 / Lifetime Touchdowns : 100000
  • 工作温度 / Operating Temperature : -55 to 300 Degree C

应用

1. 功率半导体测试 2. 晶圆上电气特性测量 3. 高电压和高电流应用

特征

1. 高可靠性和可重复性测量 2. 创新的多指尖设计 3. 小接触电阻 4. 适应高温范围

详述

FormFactor的高功率探针系列为功率半导体的测试提供了全面的解决方案。这些探针能够在高电流(最高600 A)和高电压(最高10,000 V)的条件下进行精确测量,非常适合于晶圆上的电气特性测量。探针设计采用了创新的多指尖技术,能够有效分散电流,减少对测试设备的损伤,同时在宽温度范围内(-60°C到300°C)保持高可靠性和稳定性。该系列产品的探针头可更换,适应不同的测试需求,确保用户在不同应用场景下都能得到准确的测量结果。无论是在研发还是生产测试中,FormFactor的高功率探针都能提供优异的性能,是电气测试领域中不可或缺的工具。

规格书

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厂家介绍

FormFactor, Inc. 是集成电路整个生命周期(从特性分析、建模、可靠性和设计除错到鉴定和生产测试)测试和测量技术的领先供应商。半导体公司依靠他们的产品和服务,通过优化器件性能和提高产量知识来加速盈利能力。

其它

智推产品: 高电压探针 高电流探针

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