Multi |Z| Probe
RF测量 低接触电阻 多端口测试 高频探针 晶圆测试 数字应用
100 to 500 um, GSG, GS, SS Probe from DC to 25 GHz
概述
参数
- 配置 / Configuration : GSG
- 配置 / Configuration : GS
- 配置 / Configuration : SS
- 频率 / Frequency : DC to 25 GHz
- 螺距范围 / Pitch Range : 100 to 500 um
- 阻抗 / Impedance : 50 Ohms
- 连接器 / Connector : SMP, SMP - Male, SMA, SMA - Female
- 接触电阻 / Contact Resistance : 30 mOhms
- 终生达阵 / Lifetime Touchdowns : 1, 000
应用
1. 多端口RF晶圆级测试 2. 高频探测 3. 数字应用测试
特征
1. 准确的多端口测量 2. 仅此探针可支持高达16个RF线路 3. 低接触电阻 4. 灵活性高,支持RF/DC混合信号测试 5. 耐久性强,接触寿命超过1000000次
详述
规格书
厂家介绍
其它
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