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Multi |Z| Probe 射频探头

Multi |Z| Probe

分类: 射频探头

厂家: FormFactor Inc.

产地: 美国

型号: Multi |Z| Probe

更新时间: 2024-11-07 02:53:49

RF测量 低接触电阻 多端口测试 高频探针 晶圆测试 数字应用

100 to 500 um, GSG, GS, SS Probe from DC to 25 GHz

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概述

高频晶圆探针,具有高达16个RF通道的灵活性,适用于多端口RF测量和数字测量。

参数

  • 配置 / Configuration : GSG
  • 配置 / Configuration : GS
  • 配置 / Configuration : SS
  • 频率 / Frequency : DC to 25 GHz
  • 螺距范围 / Pitch Range : 100 to 500 um
  • 阻抗 / Impedance : 50 Ohms
  • 连接器 / Connector : SMP, SMP - Male, SMA, SMA - Female
  • 接触电阻 / Contact Resistance : 30 mOhms
  • 终生达阵 / Lifetime Touchdowns : 1, 000

应用

1. 多端口RF晶圆级测试 2. 高频探测 3. 数字应用测试

特征

1. 准确的多端口测量 2. 仅此探针可支持高达16个RF线路 3. 低接触电阻 4. 灵活性高,支持RF/DC混合信号测试 5. 耐久性强,接触寿命超过1000000次

详述

Multi |Z| Probe是一款高频晶圆探针,能够支持多达16个RF通道,非常适合在多端口RF测量中使用。它的设计不仅提供了稳定的接触和极长的使用寿命,而且其低接触电阻确保了高精度的测量。该探针可以灵活地进行RF和DC信号的混合测试,减少了对昂贵探针卡的需求,提升了测试的经济性和灵活性。 Multi |Z| Probe的接触弹簧设计能够轻松克服高达50μm的垫片高度差异,确保了可靠的测试性能。无论是在生产还是研发阶段,该探针都能提供最高的精度和灵活性,成为高频探测的理想选择。

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厂家介绍

FormFactor, Inc. 是集成电路整个生命周期(从特性分析、建模、可靠性和设计除错到鉴定和生产测试)测试和测量技术的领先供应商。半导体公司依靠他们的产品和服务,通过优化器件性能和提高产量知识来加速盈利能力。

其它

智推产品: 高频连接器 射频滤波器 功率分配器

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