T26D

分类：射频探头

厂家： MPI Corporation

型号： T26D

更新时间： 2024-11-07 03:55:13

标签：

毫米波射频测量信号完整性高频测试电路测试多端网络分析

简介：

Dual Probe for Characterization of Multiport and Differential RF ICs

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概述

Dual TITAN™ Probes是MPI Corporation推出的一项突破性创新，结合了单端探头的优良特性与先进的双探头能力，适用于无线和毫米波技术的多种应用，设定了测量精度、可靠性和灵活性的全新标准。

参数

类型 / Type : Dual Coaxial
配置 / Configuration : GSSG
配置 / Configuration : GSGSG
频率 / Frequency : DC to 26 GHz
螺距范围 / Pitch Range : 100 to 500 µm
标准节距台阶 / Standard Pitch Step : 50 µm
插入损耗 / Insertion Loss : 0.8 dB
阻抗 / Impedance : 50 Ohms
电源 / Power : 5 W
回波损耗 / Return Loss : 14 dB
直流电压 / DC Voltage : 100 V
直流电流 / DC Current : 1 A
连接器 / Connector : 1.85 mm
连接器角度 / Connector Angle : A-Style: 45-degree
机身材料 / Body Material : Al alloy
终生达阵 / Lifetime Touchdowns : 1000000
等级 / Grade : Commercial

应用

1. 无线应用 2. 信号完整性测量 3. 板级测试 4. 高速数字电路特性测试 5. 复杂多端网络分析 6. 测试先进无线和毫米波设备

特征

1. 无与伦比的校准精度 2. 设计坚固，适合长期使用 3. 在整个射频范围内的多功能性 4. 提升的尖端可见性，确保准确接触

详述

Dual TITAN™ Probes是MPI Corporation推出的一项创新产品，旨在满足现代射频工程师对高精度测量的需求。这些探头结合了单端探头的优良特性，提供双探头的先进能力，适用于无线和毫米波技术的广泛应用。其独特的尖端设计提高了可见性，确保在密集测试点上进行准确的接触和测量。此外，这些探头在高频应用中表现出色，能够同时测量不同参数或位置，提高了测试的效率和准确性。Dual TITAN™ Probes不仅在性能上表现优异，而且在设计上也考虑了耐用性，确保在高频测试中的长期使用。无论是在商业无线应用、信号完整性测量还是板级测试中，这些探头都能提供一致可靠的性能，是现代电子测试中不可或缺的工具。

规格书

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厂家介绍

MPI 公司成立于 1995 年，总部位于台湾新竹，是半导体、发光二极管 (LED)、光电探测器、激光器、材料研究、航空航天、汽车、光纤、电子元件等领域的全球技术领导者。MPI 的四大业务领域包括探针卡、光子自动化、高级半导体测试和热测试。他们提供四大产品系列，包括探针卡、测试仪、分拣机和 AOI 系统。 MPI 高级半导体测试部门提供各种手动、半自动和全自动工程探头系统、26 至 220 GHz 的射频探头以及独特的射频校准软件 QAlibria®。主要应用包括射频和毫米波、用于建模和工艺开发的器件表征、大功率、晶圆级可靠性、故障分析、集成电路工程和设计验证、硅光子学等。

其它

智推产品： T26D探头 T40S探头 T50S探头 T67S探头 T145S探头 T220D探头

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