TITAN™ Multi-Contact Probe
射频测试 射频探针 高频探测 多接触探针 集成电路测试
Multi-Contact Probe from DC to 6 GHz for RFIC Testing
概述
参数
- 配置 / Configuration : GSG
- 配置 / Configuration : GS
- 配置 / Configuration : SGS
- 频率 / Frequency : DC to 6 GHz
- 螺距范围 / Pitch Range : 50 to 300 µm
- 标准节距台阶 / Standard Pitch Step : 25 µm and 50 µm
- 插入损耗 / Insertion Loss : 3 to 5 dB
- 回波损耗 / Return Loss : 10 dB
- 直流电压 / DC Voltage : 50 V / 300 V
- 直流电流 / DC Current : 1.2 A
- 接触电阻 / Contact Resistance : 45 mOhm
- 工作温度 / Operating Temperature : -40 to 150 Degrees C
应用
1. 射频集成电路测试 2. 高速数字电路测试 3. 现代多级功率放大器的电源和控制 4. 小垫片探测
特征
1. TITAN™ MEMS接触点完美匹配射频通道 2. 独特的探头可见性,使用方便 3. 6 GHz带宽和最多15个接触点,提供准确的测试结果 4. 最短的同类探针,便于大型集成电路的特性表征 5. 超过100万次接触,降低测试成本 6. 定制生产,交货周期短
详述
规格书
厂家介绍
其它
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