E4727B
电子测试设备 噪声测量 半导体测试 低频噪声分析
High-Accuracy Low-Frequency Noise Analyzer from 30 MHz to 100 MHz
概述
参数
- 频率 / Frequency : 30 mHz to 100 MHz
- 电源要求 / Power Requirements : 100 to 240 V, 50/60 Hz
- 重量 / Weight : 8.9 kg
- 尺寸 / Dimension : 298 × 192 × 104.3 mm
- 工作温度 / Operating Temperature : 10 to 40 Degree C
- 存储温度 / Storage Temperature : -30 to 70 Degree C
- 备注 / Note : Applications: Process design kit development, Manufacturing statistical process control and reliability, IC noise specification
应用
1. 工艺设计套件开发 2. 制造统计过程控制与可靠性 3. IC噪声规格
特征
1. 与PathWave WaferPro Express测量平台无缝集成 2. 先进的数据展示和分析功能 3. 自动控制所有主要晶圆探针系统 4. LFNA模块支持DC测量、1/f噪声和RTN测量 5. 灵活的硬件平均以平衡吞吐量和精度 6. 内置多种偏置方案
详述
规格书
厂家介绍
其它
相关产品
-
E4727B
噪声系数分析仪
Keysight Technologies
频率: 30 mHz to 100 MHz 电源要求: 100 to 240 V, 50/60 Hz 重量: 8.9 kg
Keysight E4727B/W7802B是一个完整的解决方案,用于测量半导体器件的闪烁(1/f)噪声和随机电报噪声(RTN)。该产品集成了PathWave WaferPro Express软件,能够自动控制半自动探针站并获取大规模晶圆映射噪声数据。
加载中....