全部产品分类
Kestrel Proble Card
简介:
80 um Pitch Probe Card
立即咨询
获取报价
下载规格书
参数
- 间距 / Pitch : 80 um
- 特点 / Features : MEMS wire needle for Cu Pillar bump probing, Applicable for full array and multi-DUT layout, Extreme low force below 2.2 gf, Ideal for pitch above 80 um, wire type needle for easy maintenance, Applicable for auto assembly
规格书
请提供您的邮箱下载规格书
怎么称呼您
接收邮箱
邮箱格式不符,请重新输入
发送申请
厂家介绍
MPI 公司成立于 1995 年,总部位于台湾新竹,是半导体、发光二极管 (LED)、光电探测器、激光器、材料研究、航空航天、汽车、光纤、电子元件等领域的全球技术领导者。MPI 的四大业务领域包括探针卡、光子自动化、高级半导体测试和热测试。他们提供四大产品系列,包括探针卡、测试仪、分拣机和 AOI 系统。
MPI 高级半导体测试部门提供各种手动、半自动和全自动工程探头系统、26 至 220 GHz 的射频探头以及独特的射频校准软件 QAlibria®。主要应用包括射频和毫米波、用于建模和工艺开发的器件表征、大功率、晶圆级可靠性、故障分析、集成电路工程和设计验证、硅光子学等。
相关产品
图片
名称
分类
制造商
参数
描述
相关文章
立即咨询
加载中....