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Kestrel Proble Card 探针卡

Kestrel Proble Card

分类: 探针卡

厂家: MPI Corporation

型号: Kestrel Proble Card

更新时间: 2025-12-01T13:25:56.000Z

80 um Pitch Probe Card

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参数

  • 间距 / Pitch : 80 um
  • 特点 / Features : MEMS wire needle for Cu Pillar bump probing, Applicable for full array and multi-DUT layout, Extreme low force below 2.2 gf, Ideal for pitch above 80 um, wire type needle for easy maintenance, Applicable for auto assembly

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厂家介绍

MPI 公司成立于 1995 年,总部位于台湾新竹,是半导体、发光二极管 (LED)、光电探测器、激光器、材料研究、航空航天、汽车、光纤、电子元件等领域的全球技术领导者。MPI 的四大业务领域包括探针卡、光子自动化、高级半导体测试和热测试。他们提供四大产品系列,包括探针卡、测试仪、分拣机和 AOI 系统。 MPI 高级半导体测试部门提供各种手动、半自动和全自动工程探头系统、26 至 220 GHz 的射频探头以及独特的射频校准软件 QAlibria®。主要应用包括射频和毫米波、用于建模和工艺开发的器件表征、大功率、晶圆级可靠性、故障分析、集成电路工程和设计验证、硅光子学等。

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