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1064nm半导体激光器
ThedesignofCMOSRadioFrequencyIntegratedCircuit
MR51-0006-02
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1064nm半导体激光器
ThedesignofCMOSRadioFrequencyIntegratedCircuit
MR51-0006-02
PCB
JRE 0814
美国
分类:
屏蔽测试外壳
厂商:
JRE Test
配置: Portable
包装类型: Benchtop
开放类型: Front
分庭: Single Chamber
频率: Up to 18 GHz
RP-1212-B
美国
分类:
连接器
厂商:
RF Industries
连接器类型: TNC
极性: Reverse
性别: Female / Jack
几何学: Straight
终端样式: Crimp
JRE 0814-2R
美国
分类:
屏蔽测试外壳
厂商:
JRE Test
配置: Portable
包装类型: Rackmount
开放类型: Front
分庭: Dual Chamber
频率: 1 to 6 GHz
55044
美国
分类:
功率分配器
厂商:
Microwave Techniques LLC
类型: Combiner
频率: 88 to 108 MHz
插入损耗: 0.05 to 0.1 dB
隔离: 32 to 35 dB
功率分配比例: 0.08 to 0.10 dB
JRE 0814-2R-A
美国
分类:
屏蔽测试外壳
厂商:
JRE Test
配置: Portable
包装类型: Rackmount
开放类型: Front
分庭: Dual Chamber
频率: 1 to 6 GHz
RP-1212-B1
美国
分类:
连接器
厂商:
RF Industries
连接器类型: TNC
极性: Reverse
性别: Female / Jack
几何学: Straight
终端样式: Crimp
JRE 0814-A
美国
分类:
屏蔽测试外壳
厂商:
JRE Test
配置: Portable
包装类型: Benchtop
开放类型: Front
分庭: Single Chamber
频率: Up to 18 GHz
JRE 0912
美国
分类:
屏蔽测试外壳
厂商:
JRE Test
配置: Portable
包装类型: Benchtop
开放类型: Top
分庭: Single Chamber
频率: 1 to 6 GHz
RP-1212-C
美国
分类:
连接器
厂商:
RF Industries
连接器类型: TNC
极性: Reverse
性别: Female / Jack
几何学: Straight
终端样式: Crimp
JRE 1522
美国
分类:
屏蔽测试外壳
厂商:
JRE Test
配置: Portable
包装类型: Benchtop
开放类型: Top
分庭: Single Chamber
频率: 1 to 6 GHz
JRE 1618
美国
分类:
屏蔽测试外壳
厂商:
JRE Test
配置: Fixed
包装类型: Stand Alone
开放类型: Top
分庭: Single Chamber
频率: 1 to 6 GHz
JRE 1714
美国
分类:
屏蔽测试外壳
厂商:
JRE Test
配置: Fixed
包装类型: Rackmount
开放类型: Front
分庭: Single Chamber
频率: 1 to 6 GHz
RP-1212-C1
美国
分类:
连接器
厂商:
RF Industries
连接器类型: TNC
极性: Reverse
性别: Female / Jack
几何学: Straight
终端样式: Crimp
JRE 1720
美国
分类:
屏蔽测试外壳
厂商:
JRE Test
配置: Portable
包装类型: Benchtop
开放类型: Front
分庭: Single Chamber
频率: 1 to 6 GHz
JRE 1724
美国
分类:
屏蔽测试外壳
厂商:
JRE Test
配置: Portable
包装类型: Rackmount
开放类型: Top
分庭: Single Chamber
频率: 1 to 6 GHz
JRE 1724A
美国
分类:
屏蔽测试外壳
厂商:
JRE Test
配置: Portable
包装类型: Benchtop
开放类型: Top
分庭: Single Chamber
频率: 1 to 6 GHz
RP-1212-C2
美国
分类:
连接器
厂商:
RF Industries
连接器类型: TNC
极性: Reverse
性别: Female / Jack
几何学: Straight
终端样式: Crimp
JRE 1729
美国
分类:
屏蔽测试外壳
厂商:
JRE Test
配置: Portable
包装类型: Benchtop
开放类型: Top
分庭: Single Chamber
频率: 1 to 6 GHz
JRE 1812
美国
分类:
屏蔽测试外壳
厂商:
JRE Test
配置: Portable
包装类型: Benchtop
开放类型: Top
分庭: Single Chamber
频率: 1 to 6 GHz
JRE 1812WS
美国
分类:
屏蔽测试外壳
厂商:
JRE Test
配置: Portable
包装类型: Benchtop
开放类型: Top
分庭: Single Chamber
频率: 1 to 6 GHz
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